Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев

  • В. М. Сорокин Институт физики полупроводников им. В. Е. Лашкарёва НАНУ, Киев, Украина
  • Р. Я. Зелинский Институт физики полупроводников им. В. Е. Лашкарёва НАНУ, Киев, Украина
  • А. В. Рыбалочка Институт физики полупроводников им. В. Е. Лашкарёва НАНУ, Киев, Украина
  • А. С. Олийник Институт физики полупроводников им. В. Е. Лашкарёва НАНУ, Киев, Украина
Ключові слова: жидкие кристаллы, электрооптические параметры, средства отображения информации, измерительно-вычислительный комплекс, СМ-100

Анотація

Создание новых конкурентоспособных средств отображения информации, использующих широкую гамму электрооптических эффектов в нематических, смектических и холестерических жидких кристаллах, а также обеспечение их нормальной работы в заданных условиях эксплуатации невозможно без правильного диагностирования. Решение этой проблемы облегчают современные универсальные измерительно-вычислительные комплексы. Среди ряда комплексов, используемых в мире, для научных центров и предприятий России, Белоруссии и Украины оптимален комплекс СМ-100, разработанный в Институте физики полупроводников НАН Украины.

Опубліковано
2008-02-28
Як цитувати
Сорокин, В. М., Зелинский, Р. Я., Рыбалочка, А. В., & Олийник, А. С. (2008). Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев. Технологія та конструювання в електронній апаратурі, (1), 48-53. вилучено із https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2008.1.48
Номер
№ 1 (2008): Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Розділ
Articles

Авторське право (c) 2008 Cорокин В. М., Зелинский Р. Я., Рыбалочка А. В., Олийник А. С.

Creative Commons License

Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution 4.0 International License.