Формирование прозрачных омических контактов к р-GaN для светоизлучающих диодов
Анотація
Приведены результаты исследований омических контактов на основе пленок Ni-Au к р-области нитрида галлия. Проведены исследования влияния толщины слоев Ni/Au, условий нанесения и формирования контакта на удельное контактное сопротивление, перераспределение элементов в структурах "металл-полупроводник" и оптические свойства контактной системы. Получены омические контакты (Ni-Au)/р-GaN с удельным контактным сопротивлением (1–2)·10–3 Ом·см2 и прозрачностью 78% на длине волны 460 нм.
Авторське право (c) 2007 Босый В. И., Данилов Н. Г., Кохан В. П., Новицкий В. А., Семашко Е. М., Ткаченко В. В., Шпоняк Т. А.

Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution 4.0 International License.