Формирование прозрачных омических контактов к р-GaN для светоизлучающих диодов

  • В. И. Босый НПП «Сатурн», Киев, Украина
  • Н. Г. Данилов НПП «Сатурн», Киев, Украина
  • В. П. Кохан НПП «Сатурн», Киев, Украина
  • В. А. Новицкий НПП «Сатурн», Киев, Украина
  • Е. М. Семашко НПП «Сатурн», Киев, Украина
  • В. В. Ткаченко НПП «Сатурн», Киев, Украина
  • T. A. Шпоняк НПП «Сатурн», Киев, Украина
Ключові слова: светоизлучающий диод, омический контакт, р-область GaN, пленка Ni/Au

Анотація

Приведены результаты исследований омических контактов на основе пленок Ni-Au к р-области нитрида галлия. Проведены исследования влияния толщины слоев Ni/Au, условий нанесения и формирования контакта на удельное контактное сопротивление, перераспределение элементов в структурах "металл-полупроводник" и оптические свойства контактной системы. Получены омические контакты (Ni-Au)/р-GaN с удельным контактным сопротивлением (1–2)·10–3 Ом·см2 и прозра­чностью 78% на длине волны 460 нм.

Опубліковано
2007-06-29
Як цитувати
Босый, В. И., Данилов, Н. Г., Кохан, В. П., Новицкий, В. А., Семашко, Е. М., Ткаченко, В. В., & ШпонякT. A. (2007). Формирование прозрачных омических контактов к р-GaN для светоизлучающих диодов. Технологія та конструювання в електронній апаратурі, (3), 43-45. вилучено із https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2007.3.43