Технологические приемы улучшения теплового режима выращивания кристаллов GaAs методом Чохральского

  • Г. П. Ковтун ННЦ «Харьковский физико-технический институт», Украина
  • А. И. Кравченко ННЦ «Харьковский физико-технический институт», Украина
  • А. И. Кондрик ННЦ «Харьковский физико-технический институт», Украина
  • А. П. Щербань ННЦ «Харьковский физико-технический институт», Украина
  • А. И. Кондрик ННЦ «Харьковский физико-технический институт», Украина
Ключові слова: арсенид галлия, монокристаллы, метод Чохральского, компьютерное моделирование, тепловое поле

Анотація

Применительно к методу Чохральского с жидкостной герметизацией расплава и с погруженным во флюс дополнительным нагревателем (д. н.) изучены зависимости температурного градиента G вблизи фронта кристаллизации в кристалле GaAs от мощности д. н., его удаленности от кристалла, а также от условий теплового экранирования кристалла и флюса при различном соотношении между тепловыми потоками через дно и стенку тигля. Показаны условия, при которых достигаются лучшие результаты (с учетом значений G и равномерности их радиального распределения).

Опубліковано
2004-12-30
Як цитувати
Ковтун, Г. П., Кравченко, А. И., Кондрик, А. И., Щербань, А. П., & Кондрик, А. И. (2004). Технологические приемы улучшения теплового режима выращивания кристаллов GaAs методом Чохральского. Технологія та конструювання в електронній апаратурі, (6), 3-6. вилучено із https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2004.6.03