Закономерности деградации светоизлучающих диодов

  • И. М. Викулин Одесская национальная академия связи им. О. С. Попова, Украина
  • В. И. Ирха Одесская национальная академия связи им. О. С. Попова, Украина
  • Б. Н. Коробицын Одесская национальная академия связи им. О. С. Попова, Украина
  • В. Е. Горбачев Одесская национальная академия связи им. О. С. Попова, Украина
Ключові слова: светодиод, деградация, приработка, отбраковка

Анотація

Предложен метод тестирования фосфид-галлиевых светоизлучающих диодов на продолжительность срока службы, значительно сокращающий время отбраковки ненадежных светоизлучающих диодов в производстве. Индивидуальный срок службы каждого светоизлучающего диода из данной партии определяется по двум измеренным значениям яркости с помощью эталонного графика, который строится по результатам испытаний относительно небольшого количества изделий.

Опубліковано
2004-04-30
Як цитувати
Викулин, И. М., Ирха, В. И., Коробицын, Б. Н., & Горбачев, В. Е. (2004). Закономерности деградации светоизлучающих диодов. Технологія та конструювання в електронній апаратурі, (2), 55-56. вилучено із https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2004.2.55
Номер
№ 2 (2004): Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Розділ
Articles

Авторське право (c) 2004 Викулин И. М., Ирха В. И., Коробицын Б. В., Горбачев В. Э.

Creative Commons License

Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution 4.0 International License.