Новое поколение фотоприемников ультрафиолетового излучения

  • К. В. Колежук Институт физики полупроводников им. В. Е. Лашкарёва НАНУ, Киев, Украина
  • В. Н. Комащенко Институт физики полупроводников им. В. Е. Лашкарёва НАНУ, Киев, Украина
  • Г. И. Шереметова Институт физики полупроводников им. В. Е. Лашкарёва НАНУ, Киев, Украина
  • Ф. И. Коржинский Институт физики полупроводников им. В. Е. Лашкарёва НАНУ, Киев, Украина
  • В. М. Чмиль НПП «Сатурн», Киев, Украина
Ключові слова: фотоприемники ультрафиолетового излучения, широкозонные полупроводники А2В6, слоистые гетероструктуры, спектральная характеристика, мониторинг УФ-излучения

Анотація

Разработана и изготовлена опытная партия селективных и широкополосных сенсоров ультрафиолетового излучения нового поколения на основе слоистых гетероструктур в системе широкозонных полупроводников А2В6 и их твердых растворов. Созданные сенсоры не имеют промышленных аналогов в мире. Их основной отличительной особенностью является нечувствительность к видимому свету при отсутствии специальных оптических фильтров для корректирования спектральной характеристики. Предназначены для мониторинга УФ-излучения.

Опубліковано
2003-06-30
Як цитувати
Колежук, К. В., Комащенко, В. Н., Шереметова, Г. И., Коржинский, Ф. И., & Чмиль, В. М. (2003). Новое поколение фотоприемников ультрафиолетового излучения. Технологія та конструювання в електронній апаратурі, (3), 51-52. вилучено із https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2003.3.51