Математическое моделирование деградации керамических терморезисторов с отрицательным ТКС

  • В. А. Балицкая НПП «Карат», Львов, Украина
  • Н. М. Вакив НПП «Карат», Львов, Украина
  • О. И. Шпотюк НПП «Карат», Львов, Украина
Ключові слова: математическое моделирование, деградация, керамические терморезисторы, отрицательный ТКС, манганиты переходных металлов, термостарение

Анотація

Обсуждаются экспериментальные реузльтаты низкотемпературной деградации терморезисторов с отрицательным ТКС на основе манганитов переходных металлов (Cu, Ni, Co, Mn)3O4. Впервые установлено, что, независимо от химического состава и технологических особенностей приготовления исследуемых керамических образцов, процессы их термостарения описываются расширенной экспоненциальной релаксационной функцией ДеБаста—Джиларда или Уильямса—Уоттса.

Опубліковано
2002-12-30
Як цитувати
Балицкая, В. А., Вакив, Н. М., & Шпотюк, О. И. (2002). Математическое моделирование деградации керамических терморезисторов с отрицательным ТКС. Технологія та конструювання в електронній апаратурі, (6), 10-13. вилучено із https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2002.6.10
Номер
№ 6 (2002): Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Розділ
Articles

Авторське право (c) 2002 Балицкая В. А., Вакив Н. М., Шпотюк О. И.

Creative Commons License

Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution 4.0 International License.