УДК 621.382

Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения.

Белоус А. И., Емельянов В. А., Ефименко С. А., Прибыльский А. В.

Предложен новый способ отбраковки БИС на основе метода понижения напряжения питания: при понижении напряжения питания фиксируются два значения напряжения питания, при которых происходит несовпадение, соответственно, первого и заданного количества тестов функционального контроля с эталоном. Приведена блок-схема измерительного устройства, реализующего данный метод; на примере биполярных микросхем (ТТЛ, ЭСЛ, И²Л) показана физическая модель, поясняющая эффективность способа.

Беларусь, г. Минск, НПО «Интеграл».