УДК 681.325:519.713

Модели анализа неисправностей цифровых систем на основе FPGA, CPLD.

В. И. Хаханов, Хак Х. М. Джахирул, Масуд М. Д. Мехеди

Представлена кубическая технология анализа цифровых схем для генерации тестов и оценки их качества. Модели функциональных элементов представлены кубическими покрытиями. Предложена универсальная процедура вычисления выходных списков неисправностей примитивов по их кубическим покрытиям.

Украина, Харьковский гос. технич. ун-т радиоэлектроники