Исследование процесса формирования токовых характеристик кремниевого фотодиода с выпрямляющими барьерами
Ключові слова:
фотодиодные структуры, барьер Шоттки, выпрямляющий переход, двухсторонняя чувствительность
Анотація
Приведены результаты исследований двухбарьерной фотодиодной кремниевой структуры с встречновключенными выпрямляющими переходами «металл — полупроводник» в фотодиодном и фотовольтаическом режимах включения. Такие структуры представляют интерес для создания устройств приема слабых оптических сигналов.
Опубліковано
2013-02-18
Як цитувати
КаримовA. B., Ёдгорова, Д. М., Гиясова, Ф. А., МирджалиловаM. A., Асанова, Г. О., АбдулхаевO. A., & Мухутдинов, Ж. Ф. (2013). Исследование процесса формирования токовых характеристик кремниевого фотодиода с выпрямляющими барьерами. Технологія та конструювання в електронній апаратурі, (1), 9-12. вилучено із http://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2013.1.09
Розділ
Articles
Авторське право (c) 2013 Каримов А. В., Ёдгорова Д. М., Гиясова Ф. А., Мирджалилова М. А., Асанова Г. О., Абдулхаев О. А., Мухутдинов Ж. Ф.

Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution 4.0 International License.