Определение радиационной стойкости ИС с помощью низкоэнергетического излучения

  • В. Л. Перевертайло НИИ микроприборов НТК «ИМК» НАН Украины, Украина, г. Киев, Украина
Ключові слова: радиационные испытания, низкоэнергетическое рентгеновское излучение,, МОП-структура, радиационная стойкость ИС

Анотація

Предложен метод определения мощности дозы излучения по ионизационному току в p–n-переходе и радиационной стойкости МДП интегральных схем с помощью низ­ко­энер­ге­ти­чес­ко­го (10–40 кэВ) рентгеновского излучения.

Опубліковано
2012-02-28
Як цитувати
Перевертайло, В. Л. (2012). Определение радиационной стойкости ИС с помощью низкоэнергетического излучения. Технологія та конструювання в електронній апаратурі, (1), 30-34. вилучено із https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2012.1.30
Номер
№ 1 (2012): Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Розділ
Articles

Авторське право (c) 2012 Perevertailo V. L.

Creative Commons License

Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution 4.0 International License.