Метод определения температуры и теплового сопротивления точек поверхности кри­с­та­л­ла интегральной схемы

  • В. М. Попов НИИ микроприборов НАНУ, Киев, Украина
  • А. С. Клименко НИИ микроприборов НАНУ, Киев, Украина
  • А. П. Поканевич НИИ микроприборов НАНУ, Киев, Украина
  • В. Л. Самотовка НИИ микроприборов НАНУ, Киев, Украина
Ключові слова: интегральная схема, тепловое сопротивление, жидкий кристалл, фазовое состояние

Анотація

Предложен метод визуального отображения температуры поверхности кристалла ин­тег­ра­ль­ной схемы (ИС) в пленке холестерического жидкого кристалла, осажденной на поверхность из рас­тво­ра. Границы наблюдаемых локальных областей — изотермы с температурой со­от­вет­ству­ю­ще­го фазового перехода. По положению изотерм и мощности, потребляемой кри­стал­лом ИС, определяются тепловые сопротивления между его поверхностью и средой.

Опубліковано
2011-12-29
Як цитувати
Попов, В. М., Клименко, А. С., Поканевич, А. П., & Самотовка, В. Л. (2011). Метод определения температуры и теплового сопротивления точек поверхности кри­с­та­л­ла интегральной схемы. Технологія та конструювання в електронній апаратурі, (6), 30-34. вилучено із https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2011.6.30
Номер
№ 6 (2011): Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Розділ
Articles

Авторське право (c) 2011 Попов В. М., Клименко А. С., Поканевич А. П., Самотовка В. Л.

Creative Commons License

Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution 4.0 International License.