Получение полуизолирующего кремния для высоковольтных приборов

  • А. С. Турцевич Филиал «Транзистор» ОАО «Интеграл», Минск, Беларусь
Ключові слова: полуизолирующий кремний, структура, зародышеобразование, осаждение

Анотація

Исследовано влияние условий осаждения на процесс зародышеобразования, структуру и электрофизические свойства пленок поликристаллического кремния, легированного кислородом (ПКЛК). При содержании кислорода 2,5–22,0 ат.% ПКЛК имеет квазикристаллическую структуру. Плотность ПКЛК во всем исследованном диапазоне составила 2,2–2,3 г/см3. Предложено объяснение полученных результатов на основе многомаршрутного процесса осаждения слоев в системе SiH4–N2O. Полученные результаты использованы для оптимизации процессов изготовления изделий силовой электроники.

Опубліковано
2008-02-28
Як цитувати
Турцевич, А. С. (2008). Получение полуизолирующего кремния для высоковольтных приборов. Технологія та конструювання в електронній апаратурі, (1), 35-41. вилучено із https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2008.1.35