Устройство для бесконтактного измерения электропроводности полупроводников

  • A. A. Ащеулов Институт термоэлектричества НАН и МОН Украины, Черновцы, Украина
  • И. A. Бучковский Черновицкий национальный университет имени Юрия Федьковича, Украина
  • И. С. Романюк Завод «Кварц», Черновцы, Украина
Ключові слова: электропроводность полупроводников, индуктивный датчик, добротность контура, поглощение энергии электромагнитного поля

Анотація

Рассмотрены пути модификации известных методов и устройств для измерения электропроводности полупроводниковых материалов. Приведена структурная схема устройства, в котором реализован дифференциальный метод измерений и одноканальная обработка измерительного сигнала. Описано функционирование отдельных блоков и устройства в целом.

Опубліковано
2007-04-30
Як цитувати
АщеуловA. A., БучковскийИ. A., & Романюк, И. С. (2007). Устройство для бесконтактного измерения электропроводности полупроводников. Технологія та конструювання в електронній апаратурі, (2), 55-57. вилучено із https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2007.2.55
Номер
№ 2 (2007): Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Розділ
Articles

Авторське право (c) 2007 Ащеулов А. А., Бучковский И. А., Романюк И. С.

Creative Commons License

Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution 4.0 International License.