Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами

  • Д. И. Блецкан Ужгородский национальный университет, Украина
  • Я. М. Пекар Ужгородский национальный университет, Украина
  • А. Р. Лукьянчук НПФ "Технокристалл", Ужгород, Украина
Ключові слова: сапфир, люминесценция, точечные дефекты, примеси

Анотація

Работа посвящена исследованию собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках и исходном сырье при помощи люминесцентных методов. Предложено использовать люминесценцию при различных видах возбуждения в качестве чувствительного и информативного экспресс-метода определения собственных и примесных точечных дефектов в кристаллах сапфира и сапфировых подложках.

Опубліковано
2006-06-30
Як цитувати
Блецкан, Д. И., Пекар, Я. М., & Лукьянчук, А. Р. (2006). Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами. Технологія та конструювання в електронній апаратурі, (3), 59-64. вилучено із https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2006.3.59
Номер
№ 3 (2006): Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Розділ
Articles

Авторське право (c) 2006 Блецкан Д. И., Лукьянчук А. Р., Пекар Я. М.

Creative Commons License

Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution 4.0 International License.