Оптимизация аппаратно-программного обеспечения для автоматизации спектрофотометра СФ-20
Анотація
Оптимизировано аппаратно-программное обеспечение для автоматизации измерений и обработки спектральных характеристик полупроводниковых структур при использовании спектрофотометра СФ-20. Предложена электрическая схема устройства сопряжения. На программном уровне реализована методика двойной фильтрации измеряемых сигналов. Относительная погрешность электронного тракта измерения оптических параметров <0,025%; время полного цикла измерения оптического спектра пропускания в диапазоне 0,19…2,5 мкм не превышает 20 мин.
Авторське право (c) 2006 Воробец А. И., Воробец Г. И., Мельничук С. В.

Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution 4.0 International License.