Фотоприемники ультрафиолетового излучения на основе тонких пленок ZnS

  • Ю. Н. Бобренко Институт физики полупроводников им. В. Е. Лашкарёва НАНУ, Киев, Украина
  • Н. В. Ярошенко Институт физики полупроводников им. В. Е. Лашкарёва НАНУ, Киев, Украина
  • Г. И. Шереметова Институт физики полупроводников им. В. Е. Лашкарёва НАНУ, Киев, Украина
  • Т. В. Семикина Институт физики полупроводников им. В. Е. Лашкарёва НАНУ, Киев, Украина
  • Б. С. Атдаев Институт физики полупроводников им. В. Е. Лашкарёва НАНУ, Киев, Украина
Ключові слова: поверхностно-барьерные структуры, ультрафиолетовое излучение, фотоприемник, фоточувствительность, тонкие пленки

Анотація

По­лу­че­ны вы­со­ко­эф­фек­тив­ные фо­то­ди­о­ды на ос­но­ве ге­те­ро­пе­ре­хо­да р-Cu1,8S/n-ZnS/(ZnS)х(CdSe)1–х/CdSe/Mo с ва­рьи­ру­е­мой тол­щи­ной внут­рен­не­го пе­ре­ход­но­го слоя. По­ка­за­но, что эф­фек­тив­ным ме­то­дом сни­же­ния чув­стви­тель­но­сти за гра­ни­цей УФ-об­лас­ти яв­ля­ет­ся пре­де­ль­ное уме­нь­ше­ние тол­щи­ны ва­ри­зон­но­го слоя.

Опубліковано
2009-10-30
Як цитувати
Бобренко, Ю. Н., Ярошенко, Н. В., Шереметова, Г. И., Семикина, Т. В., & Атдаев, Б. С. (2009). Фотоприемники ультрафиолетового излучения на основе тонких пленок ZnS. Технологія та конструювання в електронній апаратурі, (5), 29-31. вилучено із https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2009.5.29