№ 5 (2009): Технология и конструирование в электронной аппаратуре

Articles

• Индуктивность, перестраиваемая электрическим полем

  A. A. Семенов, Д. A. Усанов

  3-6

  • PDF
• Гибридный автодинный сенсор магнитного резонанса

  В. В. Брайловский, А. Д. Верига, Л. Ф. Политанский

  7-10

  • PDF
• Установка для измерения удельного коэффициента силы света материалов со световозвращающим эффектом

  В. К. Бутенко, Ю. Г. Добровольский, Б. Г. Шабашкевич, В. Г. Юрьев

  10-12

  • PDF
• Оптимизация процесса поиска неизвестного количества движущихся объектов

  И. Ю. Гришин

  13-15

  • PDF
• Оптимизация конструкции мембранных датчиков

  И. И. Рубцевич, В. Б. Высоцкий, Н. С. Ковальчук

  16-19

  • PDF
• Разработка схемы и топологии элементов матрицы управляемых автоэмиссионных кремниевых микрокатодов

  А. A. Дружинин, В. И. Голота, И. Т. Когут, Ю. Н. Ховерко

  20-25

  • PDF
• Вольт-фарадные измерения в тонкопленочных эпитаксиальных структурах GaAs

  Н. Б. Горев, И. Ф. Коджеспирова, Е. Н. Привалов

  25-28

  • PDF
• Фотоприемники ультрафиолетового излучения на основе тонких пленок ZnS

  Ю. Н. Бобренко, Н. В. Ярошенко, Г. И. Шереметова, Т. В. Семикина, Б. С. Атдаев

  29-31

  • PDF
• Измерения ВАХ импульсных кремниевых ЛПД на участке лавинного пробоя

  Я. Я. Кудрик

  32-33

  • PDF
• Прогнозирование показателей надежности двухкаскадного термоэлектрического охлаждающего устройства в режиме Q0max

  В. П. Зайков, Л. А. Киншова, Л. Д. Казанжи, Л. Ф. Храмова

  34-37

  • PDF
• Корреляция параметров арсенид-галлиевых эпитаксиальных слоев и технологии их выращивания

  А. В. Каримов, Д. М. Ёдгорова, Е. Н. Якубов

  38-41

  • PDF
• Исследование погрешности сопротивления тонкопленочного резистора

  В. Г. Спирин

  42-44

  • PDF
• Формирование мезаструктур 4НSiC p–i–n-диодов методом ионно-плазменного травления

  Н. С. Болтовец, А. Г. Борисенко, В. Н. Иванов, О. А. Федорович, В. А. Кривуца, Б. П. Полозов

  45-48

  • PDF
• Наноструктурированная композитная пленка для сенсоров влажности

  К. Л. Коваленко, Н. Н. Шаран, В. В. Севастьянов

  49-50

  • PDF
• Способ определения доли кристаллов в стеклокерамическом диэлектрике

  М. В. Дмитриев, И. Н. Еримичой, Л. И. Панов

  50-53

  • PDF
• Малогабаритные цифровые частотомеры сверхвысокочастотного диапазона

  И. И. Криваль, А. И. Скрипнюк, В. А. Проценко, А. В. Марьенко

  54-57

  • PDF